更新時(shí)間:2020-04-13
WDX 400E波長(zhǎng)色散熒光光譜儀WDX 400E 突破點(diǎn)一:對(duì)各種樣品進(jìn)行快速定性分析WDX 400E 突破點(diǎn)二:在低X光管功率下對(duì)樣品可進(jìn)行全元素同時(shí)測(cè)試WDX400E僅用400W的光管功率,解決了大功率掃描道需要3000W以上光管功率...
WDX 400E 突破點(diǎn)一:
對(duì)各種樣品進(jìn)行快速定性分析
WDX 400E 突破點(diǎn)二:在低X光管功率下對(duì)樣品可進(jìn)行全元素同時(shí)測(cè)試
WDX400E僅用400W的光管功率,解決了大功率掃描道需要3000W以上光管功率解決的問(wèn)題。
定性分析:1.由于掃描道定性分析時(shí)需連續(xù)變換晶體與入射θ角度與2θ角度,逐一對(duì)樣品中的元素掃描。使得樣品定性分析時(shí)間常常超過(guò)10分鐘;
2.而能散定性分析是用全譜直讀的方式,一般只需數(shù)秒鐘即可生成定性結(jié)果。
定量分析:1.由于掃描道設(shè)備對(duì)元素進(jìn)行逐一測(cè)試,為減少樣品測(cè)試時(shí)間,必須采用大功率X光管提高激發(fā)率,保證測(cè)量精度,有些樣品需30~40分鐘;
2.而WDX400E所有元素同時(shí)測(cè)量,多個(gè)元素都有足夠的測(cè)量時(shí)間,因此使用小功率X光管。
WDX 400E 突破點(diǎn)三:同時(shí)對(duì)幾十種元素進(jìn)行定量分析,解決固定道設(shè)備測(cè)試元素少問(wèn)題
能散探測(cè)器一次可測(cè)量幾十種元素,再加上波散固定道,大大增加了測(cè)試元素量,同時(shí)其測(cè)試效率大大超過(guò)大功率掃描型波長(zhǎng)色散設(shè)備。分析能力超過(guò)大功率掃描型波長(zhǎng)色散,操作更加簡(jiǎn)便。
WDX 400E 突破點(diǎn)四:采用波散與能散各自?xún)?yōu)點(diǎn),對(duì)輕重元素分開(kāi)測(cè)試,提高測(cè)試精度與效率
A.能散的主要優(yōu)勢(shì):1.全譜直讀,樣品定性、定量速度非???;2.SDD探測(cè)器探測(cè)效率高、分辨率好;3.同時(shí)可測(cè)試幾十種元素;4.對(duì)中重元素探測(cè)靈敏度高。
B.波散的主要優(yōu)勢(shì):1.光學(xué)分光原理,元素間分辨能力更強(qiáng),尤其對(duì)輕元素的糞便,避免高次線(xiàn)的干擾;2.由于輕元素?zé)晒猱a(chǎn)額低,可以通過(guò)增加功率,改變光路結(jié)果等單獨(dú)增加輕元素的檢測(cè)效率;3.在輕元素測(cè)試上更有優(yōu)勢(shì)。
因此WDX400E在輕元素上采用波譜,重元素采用能譜。
WDX 400E 突破點(diǎn)五:*的能散二次準(zhǔn)直器設(shè)計(jì),大大降低能散測(cè)試背景,提高樣品檢出限與測(cè)試精度
400W光管在普通能散設(shè)備上是無(wú)法應(yīng)用的,但經(jīng)過(guò)*的二次準(zhǔn)直器設(shè)計(jì),可以在保證高探測(cè)效率的情況下,降低散射背景,大幅度提高探測(cè)的信噪比,儀器測(cè)試性能進(jìn)一步提升。
與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點(diǎn):
a、在較小功率和測(cè)定時(shí)間基本相當(dāng)?shù)那闆r下即可達(dá)到足夠的分析精度。
b、延長(zhǎng)X光管使用壽命。
c、減少高壓電源故障。
d、降低整機(jī)維修成本。
e、采用固定通道,無(wú)測(cè)角儀磨損,以及測(cè)試機(jī)械移動(dòng)誤差問(wèn)題。
f、增加能譜裝置,其性能指標(biāo)堪比大功率掃描型儀器。
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