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大氣重金屬分析儀

更新時(shí)間:2020-04-13

簡(jiǎn)要描述:

EHM-X200大氣重金屬分析儀是天瑞儀器*的雙功能全自動(dòng)在線分析儀器。它創(chuàng)新地將技術(shù)——X射線熒光(XRF)無損檢測(cè)技術(shù)、β射線吸收檢測(cè)技術(shù)與空氣顆粒物自動(dòng)富集技術(shù)*結(jié)合,不...

大氣重金屬分析儀產(chǎn)品介紹

 

     EHM-X200大氣重金屬分析儀是天瑞儀器*的雙功能全自動(dòng)在線分析儀器。它創(chuàng)新地將技術(shù)——X射線熒光(XRF)無損檢測(cè)技術(shù)、β射線吸收檢測(cè)技術(shù)與空氣顆粒物自動(dòng)富集技術(shù)*結(jié)合,不僅可以監(jiān)測(cè)空氣顆粒物質(zhì)量濃度, 還可以同時(shí)對(duì)顆粒物中元素成分進(jìn)行定量分析。該儀器具有pg/m3 量級(jí)的檢出限,處于*水平,廣泛應(yīng)用于空氣質(zhì)量監(jiān)測(cè)、污染溯源及源解析、環(huán)境評(píng)價(jià)等領(lǐng)域。

 

 大氣重金屬分析儀測(cè)量原理

 

     儀器以恒定的工況流量將空氣吸入顆粒物切割器中,以PM2.5為例,動(dòng)力學(xué)直徑在2.5um附近及以下的顆粒污染物進(jìn)入到儀器的富集系統(tǒng)中。經(jīng)過一段時(shí)間的富集后,富集系統(tǒng)自動(dòng)切換成β射線分析系統(tǒng),利用β射線的衰減與顆粒物的質(zhì)量濃度成指數(shù)的關(guān)系,對(duì)顆粒物的質(zhì)量濃度進(jìn)行分析。然后卷膜系統(tǒng)地將富集有空氣顆粒物的濾紙移動(dòng)到X射線熒光分析系統(tǒng),分別利用X射線熒光的能量和強(qiáng)度對(duì)顆粒物中的元素成分進(jìn)行定性和定量的分析。

     X射線熒光光譜技術(shù)(XRF)的原理見圖3所示,可以直接檢測(cè)固體或液體樣品中ppm量級(jí)的元素成分。采用富集后再檢測(cè)的辦法,使得XRF技術(shù)對(duì)空氣顆粒物中的重金屬成分的檢測(cè)限優(yōu)于0.001ug/m3。而常規(guī)實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)技術(shù),由于預(yù)處理消解過程中需要將微克量級(jí)的樣品溶解到幾十克的液體中,而使得濃度被稀釋百萬倍,從而多數(shù)儀器(譬如ICP-AES、或原子吸收光譜儀)無法檢出元素含量低于10ug/m3量級(jí)的空氣顆粒物樣品。

 

 大氣重金屬分析儀性能特點(diǎn)

 

(1)空氣顆粒物濃度、大氣重金屬濃度一體式協(xié)同測(cè)量,為污染溯源及源解析提供更精準(zhǔn)數(shù)據(jù);
(2)TSP、PM10、PM2.5三種切割器可供用戶選擇,應(yīng)用于不同的環(huán)境評(píng)價(jià)場(chǎng)合;
(3)鉛、鎘、砷等30多種重金屬含量測(cè)量,檢出限在pg/m3量級(jí);
(4)從光管、探測(cè)器、數(shù)字多道分析器(DCMA)到整機(jī),數(shù)十項(xiàng)XRF核心技術(shù)發(fā)明;
(5)具有技術(shù)證書和測(cè)試報(bào)告,儀器的可靠性、準(zhǔn)確性得到充分驗(yàn)證。

 

大氣重金屬分析儀技術(shù)參數(shù)

 

以下列出了大氣重金屬分析儀的一些重要技術(shù)參數(shù)(表1)。

表1 天瑞儀器 EHM-X200大氣重金屬分析儀技術(shù)參數(shù)

名稱

性能參數(shù)及要求

檢測(cè)技術(shù)

(1)重金屬的測(cè)量方法基于美國EPA方法IO-3.3的非破環(huán)性X射線熒光(XRF)原理;
(2)顆粒物質(zhì)量濃度的測(cè)量方法基于《環(huán)境空氣顆粒物(PM10和PM2.5)連續(xù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)技術(shù)要求及檢測(cè)方法》(β射線吸收法);

測(cè)試內(nèi)容

(1)可監(jiān)測(cè)TSP/PM10/PM2.5空氣顆粒物(PM)質(zhì)量總濃度; 
(2)可同時(shí)監(jiān)測(cè)Pb(鉛)、Cu(銅)、Cd(鎘)、Hg(汞)、As(砷)、Cr(鉻)、Zn(鋅)、Ni(鎳)、Ba(鋇)、Fe(鐵)、Ag(銀)、Se(硒)、Br(溴)、Te(碲)、Sb(銻)、Sn(錫)、Ti(鈦)、Co(鈷)、Mn(錳)、Pd(鈀)、Tl()、Sc (鈧) 、Mo(鉬)、V(釩)、Cs(銫)、Ga(鎵)、Ca(鈣)、K(鉀)、Sr(鍶)、Cl(氯)30種元素,并可按用戶要求擴(kuò)展測(cè)量其它元素;

測(cè)量結(jié)果

用戶可以自由選擇如下三種測(cè)量結(jié)果:
(1)單位體積內(nèi)的重金屬(或顆粒物)質(zhì)量濃度,μg/m3;
(2)單位質(zhì)量顆粒物中的重金屬質(zhì)量濃度,mg/kg;
(3)重金屬在顆粒物中的百分比,%。

檢測(cè)范圍

重金屬,0~100μg/m3; 
顆粒物質(zhì)量濃度,0~10 mg/m3

檢出限

pg/m3量級(jí) (采樣時(shí)間4小時(shí)、流速16.7L/min); 
PM:<0.5μg/m3(24小時(shí)平均值)

重現(xiàn)性

重金屬,RSD < 1% (Pb的標(biāo)準(zhǔn)樣片); 
PM質(zhì)量濃度 < ±2%(標(biāo)稱值,標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量膜)

采樣分析時(shí)間

30~1440分鐘連續(xù)采樣,可自定義。采樣流量(0~20)L/min 可調(diào)節(jié),DHS 動(dòng)態(tài)加熱。采樣與分析同時(shí)進(jìn)行,無采樣間隔。 
支持整點(diǎn)模式(每小時(shí)整點(diǎn)出數(shù)據(jù),且每小時(shí)采樣富集時(shí)間不低于55分鐘)

采樣濾膜

采樣濾膜為PTFE濾紙材質(zhì),對(duì)0.3μm顆粒物的截留效率≥99.7% ,不含重金屬元素成分;

安全防護(hù)

輻射劑量符合《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》規(guī)定,具有相關(guān)部門X射線表面輻射劑量檢測(cè)報(bào)告,距離機(jī)箱5cm處,輻射劑量小于2.5μGy/h;

質(zhì)控要求

(1)儀器具備流量自動(dòng)校準(zhǔn)功能; 
(2)具備光管強(qiáng)度自校準(zhǔn)功能和能量刻度自動(dòng)校準(zhǔn)功能

分析軟件

(1)提供設(shè)備配套數(shù)據(jù)分析管理軟件,開放通訊協(xié)議,可接入已有數(shù)采平臺(tái);中文操作界面,觸摸屏操作,顯示實(shí)時(shí)采樣流量,采樣時(shí)間,測(cè)量狀態(tài),重金屬濃度值、含量曲線等信息。
(2)數(shù)據(jù)符合《污染源在線自動(dòng)監(jiān)控(監(jiān)測(cè))系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸標(biāo)準(zhǔn)》(HJ/T 212-2005)。
(3)數(shù)據(jù)庫開放,便于用戶對(duì)數(shù)據(jù)庫軟件的二次開發(fā)和利用

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深圳市天瑞儀器有限公司

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