產(chǎn)品介紹

EDX 4500HX熒光光譜分析儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。X熒光光譜分析儀是屬于大型光學(xué)精密一起。以前我國(guó)主要依靠進(jìn)口光譜分析儀，進(jìn)口的光譜分析儀價(jià)格昂貴，耗費(fèi)國(guó)家大量外匯。所以一機(jī)都在75年組織了光電式光譜分析儀會(huì)戰(zhàn)，從此我國(guó)可以自己大量生產(chǎn)大型X熒光光譜分析儀。X熒光光譜分析儀結(jié)構(gòu)雖然很復(fù)雜，主要由下面四部分組成：光源、分光器（又稱單色器）、接收器（又稱探測(cè)器）、輸出裝置。為了更好的利用儀器和得到滿意的測(cè)試結(jié)果，必須對(duì)儀器各主要部分的作用和原理有所了解。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

1.采樣方式靈活，對(duì)于稀有和貴重金屬的檢測(cè)和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。

2.測(cè)試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。

3.對(duì)于一些機(jī)械零件可以做到無損檢測(cè)，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無損檢測(cè)。

4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場(chǎng)分析，從而達(dá)到快速檢測(cè)。

5.分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。

光譜分析儀的缺點(diǎn)

1.對(duì)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準(zhǔn)確檢測(cè)。

2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測(cè)結(jié)果不能做為國(guó)家認(rèn)證依據(jù)。

3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對(duì)壟斷的因素，購(gòu)買和維護(hù)成本都比較高，性價(jià)比較低。

4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模，對(duì)于小批量樣品檢測(cè)顯然不切實(shí)際。

5.模型需要不斷更新，在儀器發(fā)生變化或者標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí)，模型也要變化。

6.建模成本很高，測(cè)試成本也就比較大了，當(dāng)然對(duì)于大量樣品檢測(cè)時(shí)，測(cè)試成本會(huì)下降。

7.易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問題，對(duì)檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確度影響較大。

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H

產(chǎn)品名稱：X熒光光譜分析儀

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素

測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒

探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測(cè)器

數(shù)字多道技術(shù)

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動(dòng)穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)

90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏

真空泵

國(guó)產(chǎn)X熒光光譜分析儀EDX4500H性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到*水平

新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好

SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍

自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性

高信噪比的電子線路單元

針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制

內(nèi)置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

國(guó)產(chǎn)X熒光光譜分析儀EDX4500H應(yīng)用領(lǐng)域

X熒光光譜分析儀合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）