　　膜厚測試儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產廠商大量生產產品的過程，由于誤差經常會導致產品全部報廢，這時候就需要運用膜厚測試儀來介入到生產環(huán)境，避免這種情況的發(fā)生。由于是光學測量，在測量時候無須擔心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。

　　膜厚測試儀的優(yōu)點：

　　1.非接觸式測量

　　膜厚測試儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠保證樣品的完整性。

　　2.測量數據多樣

　　可以測得物體的膜厚度和n，k數據，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。

　　3.測量快速

　　膜厚測試儀的測量過程非常快速，因為該設備采用了先進的結構設計，能夠程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設備來說顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　膜厚測試儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產，再到大學實驗室和科學研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍極其廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。

　　膜厚測試儀主要應用在：

　　半導體行業(yè)如：光刻膠的厚度測量；加工膜層的厚度測量，介電層的厚度測量等。

　　液晶顯示器行業(yè)如：OLED領域各種透明薄膜的厚度測量，玻璃上面涂層的厚度測量等