x熒光（x-ray）鍍層測(cè)厚儀的工作原理是利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。

Thick 680 x熒光（x-ray）鍍層測(cè)厚儀是天瑞根據(jù)多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測(cè)的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作更加輕松完成

性能特點(diǎn)

專業(yè)貴金屬檢測(cè)
智能貴金屬軟件，與儀器相得益彰
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
多變量非線性回收程序

技術(shù)指標(biāo)

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
X射線管：管電壓50KV，管電流1mA
可測(cè)元素：Ti～U
檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管
樣品觀察：CCD攝像頭
測(cè)定軟件：薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動(dòng)高度 20mm

標(biāo)準(zhǔn)配置

X射線管，正比記數(shù)盒，高清攝像頭，高度激光，信號(hào)檢測(cè)電子電路。